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JEOL JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

发布时间 2015-06-30   发布人:   浏览次数: 19

一、主要部件:

JEOL JEM-2100F主机、X射线能谱仪(EDS)、电子能量损失谱仪(EELS)


二、主要性能指标:

1、点分辨率:0.24nm;

2、线分辨率:0.10nm;

3、加速电压:100, 120, 160, 200kV;

4、倾斜角:25度;

5、STEM分辨率:0.20nm。


三、设备特点及应用范围:

JEM-2100F透射电子显微镜系日本电子株式会社(JEOL)产品。该电镜的加速电压为200kV,具有透射(TEM)、会聚束衍射(CBED)以及纳米束衍射(NBD)等工作模式,并且可与能谱仪联机,进行样品成分分析。其点分辨率和线分辨率分别为0.19nm0.1nmSTEM分辨率为0.20nm; 放大倍数达150。利用其不仅可以获得样品的高分辨率电子显微像,而且还可对样品微区作纳米尺度的结构与成分分析。因而JEM-2100F广泛应用于材料科学、生命科学、半导体、纳米技术等领域。