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Philips PW3040/60型X-射线粉末衍射仪

发布时间 2015-06-30   发布人:   浏览次数: 14

一、主要部件:

X’Pert Pro衍射平台Anton Paar TCU 750原位样品室X’Celerator Detection system超能检测器PDSPFX RIGHT自动发散光栏Collimator 0.27 deg. PFX平板准直器。


二、主要性能指标:

射线源:Cu靶;2θ角扫描范围:0.2~150o;测角仪精确度:0.001o。Anton Paar TCU 750原位样品室控温范围:室温至900℃,控制精度:0.1℃。


三、应用范围:

可对固体样品的物相结构进行定性、定量分析,能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。水平放置样品,可对微量样品进行测试;全计算机化的操作控制,功能强大的数据分析软件。X’Celerator Detection system超能检测器的配备,可使录谱强度与正比计数器相比提高100倍,灵敏度提高一个量级,可以达到或超出旋转阳极靶的效果。在X’Pert Pro衍射平台基础上还可进行低角度衍射(大d值)、低角度透射衍射及平行光衍射等分析。